Animace načítání

Stránka se připravuje...


Na co čekáte? Nečekejte už ani minutu.
Získejte přístup na tento text ještě dnes. Kontaktujte nás a my Vám obratem uděláme nabídku pro Vás přímo na míru.

Právní předpis byl sestaven k datu 01.03.2004.

Zobrazené znění právního předpisu je účinné od 01.03.2004 do 30.12.2007.


Vyhláška, kterou se stanoví požadavky na měiící sestavy s Epsteinovým přístrojem pro měření magnetických vlastností plechů pro elektrotechniku

71/2004 Sb.

71
XXXXXXXX
xx xxx 3. xxxxx 2004,
xxxxxx xx xxxxxxx xxxxxxxxx xx měřicí xxxxxxx x Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxxxxxxxx
Xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx x obchodu xxxxxxx xxxxx §27 xxxxxx č. 505/1990 Xx., x xxxxxxxxxx, xx xxxxx xxxxxx x. 119/2000 Xx. x zákona x. 137/2002 Sb., (xxxx xxx "xxxxx") x xxxxxxxxx §6 xxxx. 2 a §9 xxxx. 1 xxxxxx:
§1
Xxxx xxxxxxxx stanoví xxxxxxxxx xx xxxxxx sestavy x Xxxxxxxxxxx přístrojem xxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx plechů xxx xxxxxxxxxxxxxxx (xxxx xxx "xxxxxx sestavy"), postup xxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx x xxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxx.
§2
Xxxxxxxxxxxx, xxxxxxxxx na xxxxxx xxxxxxx, jakož x xxxxxx xxx schvalování xxxx xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx při xxxxxx ověřování jsou xxxxxxx x příloze.
§3
Xxxx xxxxxxxx xxxxxx účinnosti xxxx 1. března 2004.
Xxxxxxx:
Xxx. Xxxxx x. x.

Xxxxxxx k vyhlášce x. 71/2004 Xx.
1 XXXXXXXXXXXX
1.1 Xxxxxx xxxxxxx xx používá pro xxxxxx amplitudové xxxxxxxxxxxxxxx x xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxxxxxxxx. Xxxxxx se z xxxxxxxxx x xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxx xxxxxxx 1 až 3 x xxxxxxxxxxxxxxx x xxxx 2.
1.2 Xxxxxxxxx xxxxxx xxx Xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxxx x xxxxxx sestavě xx xxxxxx splňující požadavky xxxx xxxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx měřicí xxxxxxx.
1.3 Xxxxxxxxx měřicí xxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxx 1.1, xxxxx je x xxxxxx metrologické xxxxxxxxx, xx dlouhodobě xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx.
1.4 Xxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx x xxxxxxx xxxxxx vztažené x xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx.
1.5 Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxx magnetické xxxxxxxxxx xx xxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxx.
2 XXXXXXXXX XX XXXXXX XXXXXXX
2.1 XXXXXXXXXXXX XXXXXXXXX
Xxxxxx xxxxxxx xx skládá x xxxxx, které xxxx xxxxxxxx tyto požadavky
a) Xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxxxx x xxxx 2.2,
x) xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx x chybou 0,1 % xxxx xxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx s xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx,
x) xxxxxxx xxxxxx xxxxxx s xxxxxx 0,5 % xxxx xxxxx xxx xxxxxxxxx účinku x xxxxx faktoru, resistance xxxxxxxxxx obvodu xxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxx 5000krát větší xxx xxxx xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx x chybou 0,5 % xxxx xxxxx xx xxxxxxx x xxxxxxx s xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx a xxxxxxxx xxxxxx s xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx (místo xxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxx indukčnost x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx x x xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx xxxxx x xxxxxxxxxxx přepínačem a xxxxxxxxxx xxxxxxx hodnoty),
g) xxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx x nízkou xxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx a xxxxxxxxx, xxxxxxxx xxxxxx x frekvence xxxxx xxx xxxxx xxx 0,2 % xxxxxxx xxxxxxx. Xxx xxxxxx xxxxxxx ztrát xxxx xxx zajištěn xxxxxxx xxxxx sekundárního xxxxxx 1,111 ± 1%.
Xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxxxx etalonové vzorky , xxxxx xxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxxxx vzorkům, xxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx. Xxxx xxxxxx muší xxxxxxxx příslušné požadavky xxxx 2.2.
2.2 XXXXXXXXX XXXXXXXXX
2.2.1 Xxxxxxxxxx
2.2.1.1 Epsteinův xxxxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxxxx xx xxxxxx xx xxxx xxxxx, do xxxxxxx xx vkládají xxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx elektroplechu. Xxxxxx xxxxx xxxx xxxxxxxx z xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx, mají xxxxxxxxxxx průřez s xxxxxxx xxxxxx 32 xx. Xxxxxxxxxxxx vnitřní xxxxx je 10 xx. Xxxxx xxxx xxxxxxxx xx xxxxx x xxxxxxxxxx a xxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxx, xx xxxxx xxxxxxx. Xxxxx strany xxxxxxx xxxxxxxxx hran xxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xx (220 +1 -0) xx.
Xxxxx cívka xx xxx xxxxxx -. xxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxx sekundární xxxxxx. Xxxx xxxx xxxx být elektrostatické xxxxxxx. Xxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xx xxxxx 190 xx, každá xxxxx xx xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx počtu xxxxxx. Xxxxxxxx vinutí xxxxx xxxxx xx xxxxxxx xxxxxxx, xxxxxx xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx všech cívek. Xxxxx závitů není xxxxxxxxx, xxx xxxxxxx xx 700 xxx xxxxxxx xxx xxxxxxxxx 50 Xx.
X xxxxxxxxxxx xxxxxxx vlivu impedancí xxxxxx xxxx xxxx xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxxxx:
X1/X12 ≤ 1,25 .10-6 Ω , X2/X22 ≤ 5 .10-6 Ω, (1)
X1/X12 ≤ 2,5 . 10-9 X, X2/X22 ≤ 2,5 . X0-9 X , (2)
xxx X1 x X2 xxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxx. xxxxxxxxxxxx xxxxxx,
X1 a X2 xxxx induktance xxxxxxxxxx xxxx. sekundárního xxxxxx,
X1 x X2 jsou xxxxxxx xxxxx závitů xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx xxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxxxx musí xxx kompenzován x xxxxxxx na xxxxxxxxxx xxx vzduchem. Xx xxx xxxxxx je xxxxxxxxx prostoru xxxxxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxx cívka xxxxxxxx xxxxxxxxxxx, její xxx xx xxxxx k xxxxxx xxxxxxx osami xxxxx Epsteinova přístroje. Xxxxxxxx vinutí xxxx xxxxxxxxxxx cívky xx xxxxxxxx x xxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxx v sérii xx xxxxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx přístroje xxx, xxx xxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxxx. Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx vzájemné xxxxxxxxxxx xx xxxxxx, že xxx xxxxxxxx střídavého xxxxxx xxxxxxxxxx vinutími xxx xxxxxxxx Epsteinově xxxxxxxxx (xxxxxx není xxxxxx) xxxxxx měřené xxxx volnými xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx větší xxx 0,1 % xxxxxx xx xxxxxxxxxxx vinutí xxxxxxxxxxxxxxxx Epsteinova přístroje.
2.2.1.2 Xxxxxxxxx xxxxxx
Xxxxxxxx měřicí xxxxxxx xxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxx Xxxxxxxxx xxxxxxxx (xxxx xxx "xxxxxxxxx vzorky"). Tyto xxxxxx xxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx jsou xxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxx jsou xxxxxxxx x elektrotechnické xxxxx. Xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxx, jsou xxxxxxxx xxx, xxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxxx okrajů x xxxxx xx xx specifikováno, xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxx. Xxxxx xxxx xxx čisté, xxx xxxxx x xxxxxx xxxxxxxx. Xxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx:
xxxxx 30 xx ± 0,2 mm, xxxxx je větší xxxx rovna 280 xx x menší xxxx xxxxx 320 xx.
Xxxxx pásků musí xxx xxxxxx x xxxxxxxxx ± 0,5 xx. Xxxx xxxx xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxx xxxxx se xxxxxx xxxxxxxxx, xxxxxx xxxxxxxxxx pásu xxxx xxxxxx xxxx brány xxxx xxxxxxxxxx xxxx. Xxxxx'xxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxx směr xxxxx xxx xxxxx odlišný xx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x ± 1°. X xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx z xxxxxxxxxxxxxxx materiálu xxxx xxx xxxxxxxx pásků xxxx delší xxx xxxxxx se xxxxxx xxxxxxxxx x tolerancí xxxxxxx ± 5° x xxxxx polovina xxxxx má xxxx xxxxx xxx kolmý xx směr xxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx ± 5°. Na xxxxxx xxxxx xxxx xxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxx. Xxxxx s xxxxx osou ve xxxxx xxxxxxxxx se xxxxxxxx xx protilehlých xxxxxxxxxxxx xxxxx Epsteinova xxxxxxxxx x pásky x xxxxx xxxx xxxxxx na xxxx xxxxxxxxx xx vkládají xx xxxxxxxxxxx xxxxx.
Xxxxx xxxxx vzorku xx xxxxxxxxx xxxxxx. Xxxxxxx xxxxxxxx etalonového xxxxxx xxxx xxx xxxxxxx 240 g pro xxxxxx xxxxxx 280 xx.
Xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xx xx xxxxxxxxx dohodou 0,94 m. Aktivní xxxxxxxx vzorku ma xx dána xxxxxxx
xx = x . xx / 4x, (3)
xxx
x xx xxxxx xxxxx xxxxxx x x,
xx je efektivní xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx 0,94 x,
x je xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x xx,
xx xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x kg.
2.2.1.3 Xxxxxx xxxxxxx
2.2.1.3.1 Měřicí xxxxxxx xxx xxxxxx měrných xxxxx
Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxx 1. Xxxxxxxxxxx proud xx pomalu xxxxxxxx, xx xx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx |X2x| xx xxxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx. Xxxxxxx xx xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx. Xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxxx z xxxxxxxxxx amplitudy xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx podle
IU2mI = 4 ƒ X2 X Ja Xx / (Xx + Xx), (4)
xxx
|X2x| xx xxxxxxx xxxxxxx usměrněného xxxxxx xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx xx X,
ƒ xx xxxxxxxxx x Hz,
N2 xx xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx vinutí,
A xx xxxxxx xxxxxx x x2,
Xx je amplituda xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx v X,
Xx xx celková xxxxxxxxxx přístrojů x xxxxxxxxxxx obvodu v Ω,
Xx je součet xxxxxxxxxx sekundárních vinutí Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx vzájemné xxxxxxxxxxx,
Xxxxxx xxxxxx xx xxxxxxx x xxxxxxx
X = x / (4 x ρx) , (5)
xxx
X je xxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxxxxx x,
x je celková xxxxxxxx xxxxxx v xx,
x xx délka xxxxx xxxxxx v x,
ρx xx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx vzorku x xx/x3.
Xxxxxxx 1
Ampérmetr x xxxxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxx a xxxxxx xx xxxxx xxxxxxxxx dorovná na xxxxxxxxxxx xxxxxxx. Podílem xxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xx stanoví xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx xxxx xxx 1,111±1%.
Z xxxxx xxxxxxxxx xx vypočtou xxxxxxx ztráty Xx xxxxx
Xx = Pm X1 / X2 - (1,111|U2m|)2 / Xx, (6)
xxx
Xx xxxx xxxxxxx vypočtené ztráty xxxxxx ve X,
Xx xx výkon změřený xxxxxxxxxx xx X,
X1 xx celkový xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx,
X2 xx xxxxxxx xxxxx xxxxxx sekundárního xxxxxx
Xx xx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx přístrojů x xxxxxxxxxxx xxxxxx x Ω
|X2x| xx xxxxxxx xxxxxxx usměrněného xxxxxx xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx xx X.
Xxxxx xxxxxx Xx xx xxxxxxxx xxxxx vztahu
Ps = Pc / xx = (Xx / ma) . (4x / xx), (7)
xxx
Xx xxxx celkové xxxxx ztráty xxxxxx xx X/xx,
x xx xxxxx pásku xxxxxx x x,
xx je xxxxxxxx xxxxxxxxx délka xxxxxxxxxxxx xxxxxx x x (xx = 0,94 x),
x xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x kg,
ma je xxxxxxx hmotnost vzorku x kg,
Pc xxxx xxxxxxxxx xxxxxxx ztráty xxxxxx xx X.
2.2.1.3.2 Xxxxxx xxxxxxx pro xxxxxx xxxxxxxxxxx charakteristiky
Měřicí xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx xx xxxxxxxx podle schématu xx xxxxxxx 2 xxxx xx xxxxxxx 3. Xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx se xxxx xxxxxx odmagnetovat xxxxxxxxxx takového xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx vzorku, x jeho xxxxxxx xxxxxxxxx snižováním do xxxxxx hodnoty.
Amplituda xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx Xx se xxxx xxxxxxx střední xxxxxxx usměrněného xxxxxx xxxxxxxxxxxx v sekundárním xxxxxx podle xxxxxx (4).
Xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxx Xx xx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx proudu x obvodu xxxxxxxxxx xxxxxx X1x, xx xx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx X1x xx xxxxxx R x xxxxxxxx podle obrázku 1. Xxxxx X1x = U1a / X. Xxxxxxxxx intenzity xxxxxxxxxxxx pole xx xxxxxxx z xxxxxxx:
Xx = I1a N1 / xx, (8)
xxx
Xx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxx,
X1x je xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx primárního xxxxxx
xx xxxxxxxx efektivní xxxxx xxxxxxxxxxxx obvodu xxxxxx
X1 xx xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx přístroje
Obrázek 2
Altemativně xxxx být xxxxxxxxx xxxxxxxxx magnetického xxxx xxxxxx měřením xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx v xxxxxxxxxxx xxxxxx vzájemné indukčnosti XX, jejíž xxxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxx x xxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxx xxxxx schématu na xxxxxxx 3. Xxx xxxxxxx xxxx xxxxxx xx xxxxxxxx kontrolovat xxxx xxxxxxxx průběhu xxxxxx XXx xxxxxxxxxxxx, xxxxxx xxxxxx musí xxx xxxxx dva xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxx periody. Xxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxx x xxxxxx UDm lze xxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx napětí Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxx, xxx xx xxxxxxxxxx xx xxxxxxx 3.
Amplituda xxxxxxxxx magnetického xxxx xx xxxxxxx z xxxxxxx
Xx = XXx [X1 / ( 4 x XX xx )] . (Xx + Xx) / Rv , (9)
xxx
XX xx xxxxxxxx xxxxxxxxxx v xxxxxx xxxxx obr. 3 x X
Xx xx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx v Ω,
Xx xx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx.xxxxxxxx indukčnosti XX v Ω,
XXx xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx napětí xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx XX.
Xxxxxxx 3
2.2.2 Xxxxxx x xxxxxx
2.2.2.1 Xxxxxx xxxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxx a xxxxxx na xxxxxx xxxxxxx jsou xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx, xxxxx xxxx xxx xxxxxxxxxxx x xxxxx musí xxxxxxxxx
x) xxxxxx 'xxxxx xxxxxxx x xxxxxxxx, xxxxx přísluší x xxxxxx sestavě, s xxxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxx x xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx x měřicí xxxxxxx xxxxx xxxxx výrobce,
b) xxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxxxx xxxx měření, xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx k xxxxxxx xxxxxxxx měřicí xxxxxxx,
x) xxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxx (xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxx magnetické xxxxxxx, xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xx základě vzorkovacího xxxxxxxx, využití xxxxxxxx xxxxxxxx),
x) xxxxx a xxxxx xxxx rozsahů, xxx xxxxxxx bude xxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxxx důležitých xxxxxxxx x měřidel,
f) xxxxxx xxxxxxxxxxx vzorků,
g) kalibrační xxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxx, která jsou xxxxxxxx xxxxxx sestavy, xxxxx xxxxxxxxx nebo xxxxxxx byly provedeny,
h) xxxxxxxxx list xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxxxxx xxxxxxx,
x) xxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxx s xxxxxxxxxxx xxxxxx příslušejícími x xxxxxx sestavě.
2.2.2.2 Xxxxxxxxx xxxxxxxx
Xxxxx Epsteinova xxxxxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx. Xxxxxxxxxx xx xxxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx X, X, X, X. Xx Epsteinově přístroji x x xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxx xxx uvedeny xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx vinutí.
2.2.2.3 Etalonové xxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx nebo xxxxxxx, x to stejným, xxxxxxx a xxxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xx každém xxxxx xxxxxxxxxxx vzorku.
Všechny xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx být označeny xxx, xxx jejich xxxxxxx v Epsteinově xxxxxxxxx xxxx možné xxxxxxx xxxxxxxx.
Xx každému xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx, xx kterém xxxx xxx xxxxxxx:
x) xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx,
x) xxxx a xxx materiálu,
c) xxxxxx xxxxxx,
x) xxxxxxx xxxxxx,
x) xxxxxxxx vzorku,
f) xxxxx xxxxx vzorku,
g) xxxxxxxx, xxxxx x xxxxx xxxxx xxxxxx.
Xxxxx xxxx xxxxxxx údaje, které xxxx xxx xxxxxxx x xxxxxxxxxx listu, xxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxx, xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxx xxxx.
3 XXXXXXXXXXX XXXX
3.1 Xxxxxx xxx xxxxxxxxxxx xxxx
3.1.1 Xxxxxxxxx posouzení
Posuzující orgán xx základě prostudování xxxxxxxxxxx1) xxxxxxxx, xxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxx xxxxxx sestava xxxxxxx xxxxxxxxx xxxx vyhlášky, xxxxxxxx o xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxx xxxx xxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxx zkoušek.
3.1.2 Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx vzorků xxxxxxxxx
3.1.2.1 Žadatel doručí xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx 2 kusy xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxx ke xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx. Xxxx xxxxxx musí xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxx x svými magnetickými xxxxxxxxxxx rozsah hmotností x xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx zkoušenou xxxxxx xxxxxxxx, x xxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxx. Tyto etalonové xxxxxx xxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx v xxxx 2.2.1.2 a 2.2.2.3. K xxxxxxxxxx xxxxxxx žadatele xxxx xxx přiloženy xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx vzorků xxxxxxxxx předchozí xxxxxxxxx xxxxx xxxxxx. X xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxx xxx přiloženy xxxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx xx starší xxx 3 xxxxxx xx xxxx xxxxxxxx.
3.1.2.2 X xxxxxxxxxx xxxxxx se xxxxx na xxxxxxxxx xxxxxx sestavě xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxx xxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxx xxxx 2.2.1.3. X xxxxxxxxx xxxxxx xx vystaví xxxxxxxxx xxxx, kde xx xxxxxx aritmetické xxxxxxx xxxxxxx x opakovaných xxxxxx.
3.1.2.3 Vypočtou xx xxxxxxxxx rozdíly xxxxxx xxxxxxx xxxxx etalonových xxxxxx (xxxxxxxxxxxxxx xx xxxxxxxx měřicí xxxxxxx) xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx x etalonovou xxxxxx xxxxxxxx x %
δxx = (x1x - x2x) . 100 / x2x , (10)
xxx
x1x xx aritmetický xxxxx měření x-xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx (xxxxxxxx xxxxxx zaslané xx xxxxxxxx spolu x xxxxxxxxxxx xxxxxx),
x2x xx aritmetický střed xxxxxx i-té xxxxxxx xxxxxxx ztrát etalonovou xxxxxx xxxxxxxx (xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx listě).
Hodnoty xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxx δxx xxxxxxxx x xxxxx xxxx xxxxxxx xxxx být xxxxx xxx 3 % xxx vzorky x orientovaného xxxxxxxxx xxx xxxxxxx magnetické xxxxxxxxxx xx 1,7 X a pro xxxxxx z xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx pro xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx do 1,5 X.
3.1.2.4 Vypočtou xx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx (xxxxxxxxxxxxxx xx xxxxxxxx měřicí xxxxxxx) xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx a xxxxxxxxxx xxxxxx sestavou v % xxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxx x-xxxx xxxx (Xx ,Xx) xxxxxxxxxxxxxxx zjištěné měřením xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx xx charakteristiky xxxxxx xxxxxxx xxxxx etalonového xxxxxx etalonovou xxxxxx xxxxxxxx podle xxxxxxx (11), (12) xxxx (13):
δxx = δXx . 100 / √ {1 + [(Xx / Xx) . (xX / xX)x ]2} = ΔXx . 100 / √ {Xx2 + [Hi . (xX / xX)x]2} (11)
δxx = δHi . 100 / √ {1 + [(Xx / Hi) . (xX / xX)x-1]2} = ΔHi . 100 / √ {Xx2 + [Xx . (dB / xX)x-1]2} (12)
δxx = δBi . |δXx| . 100 / √ (δXx2 + δHi2 ) = ΔBi . |ΔXx| . 100 / √ (ΔXx2 . Hi2 + ΔXx2 . Xx2) (13)
xxx odmocniny xx xxxxx xxx xxxxxx x xxx
δXx = (Xx - Xx´) / |Xx| = ΔXx / |Xx|, (14)
ΔXx = Bi - Bi´, (15)
δHi = (Hi - Xx´) / |Xx| = ΔXx / |Xx|, (16)
ΔXx = Xx - Xx´, (17)
(xX / dH)i xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx vzorku xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx x xxxx (Xx, Bi´),
Hi x Bi jsou xxxxxxx intenzity xxxxxxxxxxxx xxxx xxxx. xxxxxxxxxx xxxxxxx x-xxxx bodu xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx,
Xx´ xx xxxxxxx xxxxxxxxxx indukce odečtená xx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxx Xx,
Xx´ xx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxxxxx měřené xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxx Xx.
Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx δxx xxxx xxx xxxxx xxx 4 % pro xxxxxxx body xxxxxx xxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxx xxxx xxxxxxx.
3.1.3 Xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx
Xxxxxx xxxxxxxxx x kontrola xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxx probíhá x xxxxx xxxxxxx xxxxxxxx měřicí xxxxxxx. Xxx xxxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxxxx
x) xxxxxx xxxxxxx xxxxx být xxxxxxxxxx poškozena,
b) xxxxxx xxxxxxx musí xxxxxxxx x měřidel, etalonů x xxxxxxxx uvedených x xxxxxxxxxxx,
x) uspořádání xxxxxxx x xxxxxxxx xxxx xxx x xxxxxxx xx schématem xxxxxxxx xxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxx,
x) úplnost xxxxx xxxxxxxxx požadovaných x bodu 2.2.2.
3.1.4 Xxxxxxx měřením vzorků xxxxxxxxx
Xxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xx xxxx xxxxxxxxx vzorky (xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx měřicí xxxxxxx) xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxx xxxxxxxxxxx zkoušenou měřicí xxxxxxxx ve shodě x xxxxx 3.1.2.
3.1.5 Xxxxxxxxxxx protokolu x xxxxxxxxx xxxxxxx
Xxxxxxxx o xxxxxxxxx zkoušce xxxxxxxx xxxxx x xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxx 3.1.2 , 3.1.3 a 3.1.4, xxxxx xxxx xxx xxxxxx výsledek. Xxxx xxxxxxxx xxxxxx, xxxxxxx x xxxxxxxx xxxxx xxx xxxxxxxxxxxx xxxx x objasnění xxxx xxxxxx.
3.2 Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx
Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx2).
4 OVĚŘOVÁNÍ
Prvotní x xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx xx xxxxxxx xxxxx xxxx 3.1.2, 3.1.3. x 3.1.4. Xxxxx xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxx x xxxxxx xxxxxxx splňuje požadavky xxxxxxxxx touto xxxxxxxxx, xxxxxxx se xxxxxxxxx xxxx x xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxx xxxxxx xxxxxxx3).

Informace
Právní xxxxxxx x. 71/2004 Xx. xxxxx xxxxxxxxx dnem 1.3.2004.
Xx xxx uzávěrky xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxx xx xxxxxxxxx.
Xxxxxx xxxxxxx x. 71/2004 Sb. xxx zrušen právním xxxxxxxxx č. 259/2007 Sb. x xxxxxxxxx xx 1.1.2008.
Xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx právních xxxxxxxx x xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxxxxxx, xxxxx xx xxxx xxxxxx derogační xxxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxx.
1) §1 xxxx. 2 xxxxxxxx x. 262/2000 Sb., xxxxxx se xxxxxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx a xxxxxx, xx xxxxx vyhlášky x. 344/2002 Xx.
2) §3 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx.
3) §6 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx.