Animace načítání

Stránka se připravuje...


Na co čekáte? Nečekejte už ani minutu.
Získejte přístup na tento text ještě dnes. Kontaktujte nás a my Vám obratem uděláme nabídku pro Vás přímo na míru.

Právní předpis byl sestaven k datu 30.12.2007.

Zobrazené znění právního předpisu je účinné od 01.03.2004 do 30.12.2007.


Vyhláška, kterou se stanoví požadavky na měiící sestavy s Epsteinovým přístrojem pro měření magnetických vlastností plechů pro elektrotechniku

71/2004 Sb.

71
XXXXXXXX
xx xxx 3. xxxxx 2004,
xxxxxx xx xxxxxxx požadavky xx xxxxxx xxxxxxx x Xxxxxxxxxxx přístrojem xxx xxxxxx magnetických xxxxxxxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxxxxxxxx
Ministerstvo xxxxxxxx a xxxxxxx xxxxxxx xxxxx §27 xxxxxx x. 505/1990 Xx., o xxxxxxxxxx, xx xxxxx xxxxxx x. 119/2000 Xx. x xxxxxx x. 137/2002 Sb., (dále xxx "xxxxx") x xxxxxxxxx §6 xxxx. 2 x §9 xxxx. 1 xxxxxx:
§1
Tato xxxxxxxx stanoví xxxxxxxxx xx xxxxxx sestavy x Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx plechů xxx xxxxxxxxxxxxxxx (xxxx jen "xxxxxx sestavy"), xxxxxx xxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx x xxxxxx xxx jejich ověřování.
§2
Terminologie, xxxxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx, jakož i xxxxxx při schvalování xxxx xxxxxxxx xxxxxx x postup při xxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx x příloze.
§3
Xxxx xxxxxxxx nabývá xxxxxxxxx xxxx 1. xxxxxx 2004.
Xxxxxxx:
Xxx. Urban x. x.

Příloha x xxxxxxxx x. 71/2004 Xx.
1 XXXXXXXXXXXX
1.1 Xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx x xxxxxxx xxxxx xxxxxx pro xxxxxxxxxxxxxxx. Xxxxxx xx x xxxxxxxxx x zařízení xxxxxxxxxx xxxxx xxxxxxx 1 xx 3 x specifikovaných x xxxx 2.
1.2 Etalonový xxxxxx xxx Epsteinův xxxxxxxx příslušející x xxxxxx sestavě je xxxxxx splňující požadavky xxxx vyhlášky a xxxxxxxxx výhradně x xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx.
1.3 Xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xx měřicí xxxxxxx xxxxx xxxx 1.1, xxxxx xx x xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx, je xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx vzorků xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx.
1.4 Měrné xxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx x měřeném xxxxxx xxxxxxxx x xxxxxxx hmotnosti vzorku.
1.5 Xxxxxxxxxxx charakteristika xx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx vzorku xx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx pole xx xxxxxx.
2 XXXXXXXXX NA XXXXXX SESTAVY
2.1 XXXXXXXXXXXX XXXXXXXXX
Xxxxxx xxxxxxx xx skládá x xxxxx, xxxxx musí xxxxxxxx xxxx požadavky
a) Xxxxxxxxx přístroj specifikovaný x xxxx 2.2,
x) xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,1 % nebo menší,
c) xxxxxxxx xxxxxxx hodnoty xxxxxx s xxxxxx 0,2 % nebo xxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx,
x) xxxxxxx xxxxxx měřící x xxxxxx 0,5 % xxxx xxxxx při xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxx xxxxxxx, xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxx musí xxx xxxxxxx 5000xxxx xxxxx xxx jeho xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxxxxx měřící x xxxxxx 0,5 % xxxx xxxxx xx xxxxxxx x xxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxx známou s xxxxxx 0,2 % xxxx menší (xxxxx xxxxxxxxx amplitudy x xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx povoleným proudem x xxxxxxxxx vinutí x x xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx xxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx a xxxxxxxxxx xxxxxxx hodnoty),
g) xxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx výstupní xxxxxxxxx x vysokou xxxxxxxxxx xxxxxx a xxxxxxxxx, xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxxx xxxxx xxx xxxxx xxx 0,2 % xxxxxxx xxxxxxx. Pro měření xxxxxxx ztrát xxxx xxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxx sekundárního napětí 1,111 ± 1%.
Xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx vzorky , xxxxx xxxx xxxxxxxxxxxx vlastnostmi x xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx, xxxxx xxxx měřicí xxxxxxxx xxxxx měřeny. Xxxx vzorky xxxx xxxxxxxx příslušné xxxxxxxxx xxxx 2.2.
2.2 XXXXXXXXX XXXXXXXXX
2.2.1 Xxxxxxxxxx
2.2.1.1 Xxxxxxxxx xxxxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxxxx xx xxxxxx ze xxxx xxxxx, do xxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx elektroplechu. Xxxxxx xxxxx xxxx xxxxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx, mají xxxxxxxxxxx průřez s xxxxxxx xxxxxx 32 xx. Doporučovaná xxxxxxx xxxxx xx 10 xx. Cívky xxxx xxxxxxxx xx desce x xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxx materiálu xxx, xx xxxxx xxxxxxx. Xxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxx pásků xxxxxxxxx xxxxxx xx (220 +1 -0) xx.
Xxxxx xxxxx xx xxx xxxxxx -. xxxxxx primární xxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx. Xxxx xxxx xxxx být elektrostatické xxxxxxx. Xxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xx xxxxx 190 xx, xxxxx cívka xx xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx počtu xxxxxx. Xxxxxxxx vinutí xxxxx xxxxx je xxxxxxx xxxxxxx, stejně xx xxxxxxx spojeno xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxx xxxxx. Xxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxx, xxx xxxxxxx xx 700 xxx xxxxxxx při frekvenci 50 Xx.
X maximálnímu xxxxxxx xxxxx impedancí xxxxxx musí xxxx xxxxxxxxx splňovat xxxx xxxxxxxx:
X1/X12 ≤ 1,25 .10-6 Ω , X2/X22 ≤ 5 .10-6 Ω, (1)
L1/N12 ≤ 2,5 . 10-9 X, X2/X22 ≤ 2,5 . X0-9 H , (2)
xxx R1 a X2 jsou resistence xxxxxxxxxx xxxx. sekundárního xxxxxx,
X1 a X2 xxxx induktance xxxxxxxxxx xxxx. xxxxxxxxxxxx vinutí,
N1 x X2 jsou xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx xxxxxx.
Xxxxxxxxx přístroj xxxx xxx kompenzován x xxxxxxx xx magnetický xxx xxxxxxxx. Xx xxx xxxxxx xx xxxxxxxxx prostoru ohraničeného xxxxxxx Epsteinova xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx, její osa xx xxxxx x xxxxxx tvořené xxxxx xxxxx Xxxxxxxxxx přístroje. Xxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxxxx xxxxx je xxxxxxxx x xxxxx x xxxxxxxxx vinutím Xxxxxxxxxx přístroje x xxxxxxxxxx vinutí xx xxxxxxxx x xxxxx xx xxxxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxx, xxx xxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx sekundárních xxxxxxxx byla xxxxxx xxxxxxxx. Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxx indukčnosti xx xxxxxx, xx xxx průchodu xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx (xxxxxx není xxxxxx) xxxxxx měřené xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx sekundárních xxxxxx xxxx xxxxx xxx 0,1 % napětí xx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxxxx Epsteinova přístroje.
2.2.1.2 Xxxxxxxxx vzorky
Součástí xxxxxx xxxxxxx xxxx etalonové xxxxxx pro Xxxxxxxxx xxxxxxxx (dále xxx "xxxxxxxxx xxxxxx"). Xxxx xxxxxx musí xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxxxx rozsah xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxx, které xxxx xxxxxx xxxxxxxx běžně xxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxxx xxxxx. Pásky xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxx, xxxx xxxxxxxx xxx, xxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxxx okrajů x pokud xx xx xxxxxxxxxxxxx, xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxx. Xxxxx xxxx být čisté, xxx xxxxx x xxxxxx xxxxxxxx. Pásky xxxxxx xxxx následující xxxxxxx:
xxxxx 30 xx ± 0,2 xx, xxxxx je větší xxxx rovna 280 xx x xxxxx xxxx xxxxx 320 xx.
Xxxxx pásků xxxx xxx xxxxxx x xxxxxxxxx ± 0,5 xx. Xxxx jsou xxxxx xxxxxxxx rovnoběžně xxxx kolmo xx xxxxxx xxxxxxxxx, xxxxxx xxxxxxxxxx xxxx xxxx xxxxxx jsou brány xxxx xxxxxxxxxx xxxx. Xxxxx'xxxxxx xxxxxxxxxxx z xxxxxxxxxxxxx materiálu xxxx xxx xxxx delší xxx pásku odlišný xx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x ± 1°. X xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx musí xxx xxxxxxxx xxxxx xxxx delší xxx xxxxxx xx směrem xxxxxxxxx s xxxxxxxxx xxxxxxx ± 5° x druhá xxxxxxxx xxxxx xx směr xxxxx xxx kolmý xx xxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxx nejvýše ± 5°. Xx xxxxxx pásku xxxx xxx xxxxxx směr xxxxxxxxx. Pásky x xxxxx xxxx xx xxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxx Epsteinova xxxxxxxxx x pásky x delší osou xxxxxx xx směr xxxxxxxxx xx vkládají xx xxxxxxxxxxx xxxxx.
Xxxxx xxxxx vzorku xx xxxxxxxxx xxxxxx. Aktivní xxxxxxxx xxxxxxxxxxx vzorku xxxx být xxxxxxx 240 x xxx xxxxxx xxxxxx 280 xx.
Xxxxxxxxx délka xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xx xx stanovena xxxxxxx 0,94 x. Xxxxxxx xxxxxxxx vzorku xx xx xxxx xxxxxxx
xx = m . xx / 4l, (3)
xxx
x je délka xxxxx xxxxxx x x,
xx xx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx 0,94 m,
m xx xxxxxxx hmotnost vzorku x xx,
xx xx xxxxxxx hmotnost vzorku x kg.
2.2.1.3 Xxxxxx xxxxxxx
2.2.1.3.1 Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx
Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxx ztrát xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxx 1. Magnetovací proud xx pomalu zvyšován, xx se xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx |X2x| xx xxxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx. Xxxxxxx xx xxxxxxxxxxx sleduje xxxxxxx magnetovačího xxxxxx, xxx proudový obvod xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx. Xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxx amplitudy xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx podle
IU2mI = 4 ƒ N2 X Xx Xx / (Ri + Xx), (4)
xxx
|X2x| xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx indukovaného x xxxxxxxxxxx xxxxxx ve X,
ƒ je xxxxxxxxx x Hz,
N2 je xxxxxxx xxxxx závitů xxxxxxxxxxxx xxxxxx,
X xx xxxxxx vzorku v x2,
Xx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx v X,
Xx xx celková xxxxxxxxxx xxxxxxxxx v xxxxxxxxxxx obvodu x Ω,
Xx je xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx,
Xxxxxx xxxxxx se vypočte x xxxxxxx
X = x / (4 x ρx) , (5)
xxx
X xx průřez xxxxxx xx čtverečních x,
x xx xxxxxxx xxxxxxxx vzorku v xx,
x xx xxxxx xxxxx xxxxxx v x,
ρx je xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx x kg/m3.
Obrázek 1
Xxxxxxxxx x primárním obvodu xx xxxxxxxx x xxxxxx se potom xxxxxxxxx dorovná xx xxxxxxxxxxx xxxxxxx. Xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xx stanoví xxxxxxx xxxxx indukovaného xxxxxx, xxxxx musí xxx 1,111±1%.
Z xxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx Xx xxxxx
Xx = Pm X1 / X2 - (1,111|U2m|)2 / Xx, (6)
xxx
Xx jsou xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx ve X,
Xx xx xxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xx X,
X1 xx xxxxxxx počet xxxxxx primárního xxxxxx,
X2 xx celkový xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx vinutí
Ri xx xxxxxxx ekvivalentní xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx obvodu x Ω
|X2x| xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx x sekundárním xxxxxx xx X.
Xxxxx xxxxxx Ps se xxxxxxxx podle vztahu
Ps = Pc / xx = (Pc / ma) . (4x / lm), (7)
xxx
Xx xxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxx xx X/xx,
x xx xxxxx pásku vzorku x x,
xx xx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx x x (xx = 0,94 m),
m xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x xx,
xx xx xxxxxxx hmotnost xxxxxx x kg,
Pc xxxx xxxxxxxxx celkové xxxxxx xxxxxx ve X.
2.2.1.3.2 Xxxxxx sestava xxx xxxxxx amplitudové charakteristiky
Měřicí xxxxxxx pro xxxxxx xxxxxxxxxxx charakteristiky je xxxxxxxx podle xxxxxxxx xx xxxxxxx 2 xxxx na xxxxxxx 3. Před xxxxxxx xxxxxxxxxxx charakteristiky se xxxx xxxxxx odmagnetovat xxxxxxxxxx takového střídavého xxxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx xxxxxx, x xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx xxxxxx hodnoty.
Amplituda xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx Ja xx xxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx napětí xxxxxxxxxxxx v xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxx xxxxxx (4).
Xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxx Xx se xxxx xxxxxxx amplitudy xxxxxx x xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx I1a, to xx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx U1a na xxxxxx X x xxxxxxxx xxxxx xxxxxxx 1. Platí X1x = U1a / X. Xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxxx z rovnice:
Ha = X1x N1 / lm, (8)
xxx
Xx xx amplituda intenzity xxxxxxxxxxxx pole ve xxxxxx,
X1x xx amplituda xxxxxxxxxxxxx proudu x xxxxxx primárního xxxxxx
xx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx vzorku
N1 xx xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx
Xxxxxxx 2
Altemativně xxxx být amplituda xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx pole xxxxxx měřením xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx v xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx XX, xxxxx primární xxxxxx xx xxxxxxxx x sérii x xxxxxxxxx vinutím Epsteinova xxxxxxxxx v zapojení xxxxx schématu na xxxxxxx 3. Při xxxxxxx xxxx metody xx xxxxxxxx kontrolovat xxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx UDm xxxxxxxxxxxx, xxxxxx xxxxxx musí xxx xxxxx dva xxxxxxxx nulovou xxxxxxxx xxxxx xxxxx xxxxxxx. Xxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx nutný x xxxxxx UDm lze xxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx Epsteinova xxxxxxxxx x xxxxxxxx, xxx xx xxxxxxxxxx xx xxxxxxx 3.
Xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx pole xx xxxxxxx x xxxxxxx
Xx = UDm [X1 / ( 4 x XX xx )] . (Xx + Xx) / Xx , (9)
xxx
XX xx vzájemná xxxxxxxxxx v xxxxxx xxxxx obr. 3 x X
Xx xx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx x Ω,
Xx xx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx.xxxxxxxx indukčnosti XX v Ω,
XXx xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx x sekundárním xxxxxx XX.
Xxxxxxx 3
2.2.2 Nápisy x xxxxxx
2.2.2.1 Xxxxxx xxxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx xx měřicí xxxxxxx jsou xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx, xxxxx xxxx xxx xxxxxxxxxxx x xxxxx musí xxxxxxxxx
x) seznam 'xxxxx xxxxxxx a xxxxxxxx, xxxxx xxxxxxxx x xxxxxx sestavě, x xxxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxxx čísel x xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx x xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxx xxxxxxx,
x) xxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxxxx druh xxxxxx, xxxxxxxxx popisy x xxxxxx k obsluze xxxxxxxx měřicí xxxxxxx,
x) xxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxx (xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx, xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xx základě xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx, využití xxxxxxxx xxxxxxxx),
x) xxxxx a xxxxx meze rozsahů, xxx xxxxxxx bude xxxxxx sestava xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxxx důležitých xxxxxxxx x xxxxxxx,
x) seznam xxxxxxxxxxx xxxxxx,
x) kalibrační xxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxx, xxxxx xxxx xxxxxxxx měřicí xxxxxxx, xxxxx xxxxxxxxx nebo xxxxxxx byly xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxxx list xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxxxxx xxxxxxx,
x) xxxxx xxxxxxx xxxxx měření x xxxxxxxxxxx xxxxxx příslušejícími x xxxxxx xxxxxxx.
2.2.2.2 Xxxxxxxxx xxxxxxxx
Xxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx. Xxxxxxxxxx se xxxxxxxx xx smyslu xxxxxxxxxx xxxxxxx A, X, X, X. Xx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x x xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxx xxx xxxxxxx počty xxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx vinutí.
2.2.2.3 Etalonové xxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx označen evidenčním xxxxxx xxxx písmeny, x to xxxxxxx, xxxxxxx x xxxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xx každém xxxxx etalonového xxxxxx.
Xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx být xxxxxxxx xxx, xxx xxxxxx xxxxxxx v Epsteinově xxxxxxxxx xxxx možné xxxxxxx způsobem.
Ke xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx evidenční xxxx, ve xxxxxx xxxx xxx xxxxxxx:
x) xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx,
x) xxxx x xxx materiálu,
c) xxxxxx xxxxxx,
x) xxxxxxx xxxxxx,
x) xxxxxxxx vzorku,
f) xxxxx xxxxx xxxxxx,
x) xxxxxxxx, xxxxx x xxxxx xxxxx xxxxxx.
Xxxxx jsou xxxxxxx xxxxx, xxxxx xxxx xxx uvedeny x xxxxxxxxxx xxxxx, xxxxxxx x kalibračním xxxxx xxxxxx, etalonový xxxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxx list.
3 SCHVALOVÁNÍ XXXX
3.1 Xxxxxx xxx schvalování typu
3.1.1 Xxxxxxxxx xxxxxxxxx
Xxxxxxxxxx xxxxx xx základě xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx1) zjišťuje, zda xxxxxxxxxxx x následně xxxxxx xxxxxxx splňuje xxxxxxxxx této xxxxxxxx, xxxxxxxx o xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxx podá xxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxx.
3.1.2 Xxxxxxxxx xxxxxxx měřením xxxxxx xxxxxxxxx
3.1.2.1 Žadatel xxxxxx xxxxxxxxxxxx orgánu xxxxxxx 2 xxxx etalonových xxxxxx příslušejících ke xxxxxxxx měřicí sestavě. Xxxx xxxxxx musí xxxxxxxx xxxx hmotností x xxxxx magnetickými xxxxxxxxxxx rozsah xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx vlastností xxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx sestavou, x xxxxx rozsahu zkoušky xxxx. Xxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxx 2.2.1.2 a 2.2.2.3. K xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxx přiloženy xxxxx xxxxxxxxxxx listů vzorků xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxx. X xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxx být přiloženy xxxxxxxx x protokoly xxxxxx xxxxxx zkoušenou xxxxxx sestavou x xxxxxxxxx prováděných zkoušek xx starší xxx 3 měsíce xx xxxx xxxxxxxx.
3.1.2.2 X xxxxxxxxxx xxxxxx xx xxxxx na xxxxxxxxx xxxxxx sestavě posuzujícího xxxxxx xxxxx xxxxxx x amplitudová charakteristika xxxxx bodu 2.2.1.3. X xxxxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxx, xxx xx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx z xxxxxxxxxxx xxxxxx.
3.1.2.3 Vypočtou xx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx (xxxxxxxxxxxxxx ke xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx) xxxxxxxxx měřicí sestavou x xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx v %
δxx = (p1i - x2x) . 100 / x2x , (10)
xxx
x1x xx aritmetický xxxxx xxxxxx x-xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx (xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxx x etalonovými xxxxxx),
x2x xx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxx x-xx hodnoty xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx (xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx ve xxxxxxxxxx kalibračním xxxxx).
Xxxxxxx xxxxxxxxxxx rozdílů xxxxxxx xxxxx δpi zjištěné x xxxxx této xxxxxxx musí být xxxxx xxx 3 % xxx xxxxxx x orientovaného xxxxxxxxx xxx hodnoty xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx 1,7 X x pro xxxxxx x neorientovaného xxxxxxxxx pro xxxxxxx xxxxxxxxxx polarizace xx 1,5 X.
3.1.2.4 Xxxxxxxx xx xxxxxxxxx rozdíly xxxxxx amplitudové xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx (příslušejících xx xxxxxxxx měřicí xxxxxxx) zkoušenou xxxxxx xxxxxxxx a xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx v % xxxx minimální xxxxxxxxx vzdálenosti x-xxxx xxxx (Xx ,Xx) xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxx měřením xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx xx charakteristiky určené xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx etalonovou xxxxxx xxxxxxxx podle xxxxxxx (11), (12) xxxx (13):
δxx = δXx . 100 / √ {1 + [(Xx / Xx) . (xX / xX)x ]2} = ΔXx . 100 / √ {Bi2 + [Hi . (xX / dH)i]2} (11)
δxx = δXx . 100 / √ {1 + [(Xx / Xx) . (dB / xX)x-1]2} = ΔXx . 100 / √ {Xx2 + [Xx . (xX / xX)x-1]2} (12)
δxx = δXx . |δXx| . 100 / √ (δXx2 + δHi2 ) = ΔBi . |ΔXx| . 100 / √ (ΔXx2 . Hi2 + ΔXx2 . Xx2) (13)
xxx xxxxxxxxx xx xxxxx xxx xxxxxx x xxx
δXx = (Xx - Xx´) / |Bi| = ΔXx / |Xx|, (14)
ΔXx = Xx - Xx´, (15)
δXx = (Hi - Xx´) / |Hi| = ΔXx / |Xx|, (16)
ΔXx = Xx - Hi´, (17)
(xX / dH)i xx směrnice tečny xxxxxx xxxx měřením xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx v xxxx (Hi, Bi´),
Hi x Xx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xxxx. xxxxxxxxxx xxxxxxx x-xxxx bodu xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx,
Xx´ xx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx odečtená xx xxxxxxxxxxxxxxx měřené xxxxxxxxxx xxxxxx sestavou xxx xxxxxxx Xx,
Xx´ xx hodnota xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx odečtená xx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxx Bi.
Relativní xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx δxx xxxx xxx menší xxx 4 % pro xxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxx etalonových vzorků x xxxxx xxxx xxxxxxx.
3.1.3 Xxxxxxxxx zkoušené xxxxxx sestavy
Vnější xxxxxxxxx x xxxxxxxx předepsané xxxxxxxxx dokumentace probíhá x xxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx. Xxx vnější xxxxxxxxx xx xxxxxxxxxx
x) xxxxxx xxxxxxx nesmí xxx xxxxxxxxxx poškozena,
b) xxxxxx xxxxxxx musí sestávat x xxxxxxx, xxxxxxx x součástí xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx,
x) xxxxxxxxxx xxxxxxx x součástí xxxx být v xxxxxxx xx schématem xxxxxxxx pro xxxxxxxxx xxxx xxxxxx,
x) úplnost xxxxx xxxxxxxxx požadovaných x xxxx 2.2.2.
3.1.4 Xxxxxxx xxxxxxx vzorků xxxxxxxxx
Xxx zkoušce měřením xxxxxx xx měří xxxxxxxxx xxxxxx (xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx) zkoušejícího xxxxxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xx xxxxx x xxxxx 3.1.2.
3.1.5 Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxx zkoušce
Protokol x xxxxxxxxx zkoušce obsahuje xxxxx a xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxx 3.1.2 , 3.1.3 x 3.1.4, xxxxx musí xxx xxxxxx výsledek. Xxxx xxxxxxxx xxxxxx, xxxxxxx x xxxxxxxx xxxxx xxx identifikaci xxxx x xxxxxxxxx jeho xxxxxx.
3.2 Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx
Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx schválení xxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx2).
4 OVĚŘOVÁNÍ
Prvotní x xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx xx xxxxxxx xxxxx xxxx 3.1.2, 3.1.3. x 3.1.4. Xxxxx xx xxxxxxxx xxxxx těchto xxxxxxx xxxxxx x měřicí xxxxxxx splňuje xxxxxxxxx xxxxxxxxx touto xxxxxxxxx, xxxxxxx xx ověřovací xxxx x zkoušená xxxxxx xxxxxxx se xxxxxx xxxxxx xxxxxxx3).

Informace
Právní xxxxxxx x. 71/2004 Xx. xxxxx xxxxxxxxx xxxx 1.3.2004.
Xx xxx uzávěrky xxxxxx xxxxxxx nebyl xxxxx xx xxxxxxxxx.
Xxxxxx xxxxxxx x. 71/2004 Xx. xxx xxxxxx právním xxxxxxxxx č. 259/2007 Sb. x xxxxxxxxx xx 1.1.2008.
Xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx právních xxxxxxxx x odkazech není xxxxxxxxxxxxx, xxxxx xx xxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxx uvedeného xxxxxxxx předpisu.
1) §1 xxxx. 2 vyhlášky x. 262/2000 Xx., xxxxxx se xxxxxxxxx xxxxxxxxxx a správnost xxxxxxx x xxxxxx, xx xxxxx vyhlášky x. 344/2002 Xx.
2) §3 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx.
3) §6 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx.