Animace načítání

Stránka se připravuje...


Na co čekáte? Nečekejte už ani minutu.
Získejte přístup na tento text ještě dnes. Kontaktujte nás a my Vám obratem uděláme nabídku pro Vás přímo na míru.

Právní předpis byl sestaven k datu 30.12.2007.

Zobrazené znění právního předpisu je účinné od 01.03.2004 do 30.12.2007.


Vyhláška, kterou se stanoví požadavky na měiící sestavy s Epsteinovým přístrojem pro měření magnetických vlastností plechů pro elektrotechniku

71/2004 Sb.

71
VYHLÁŠKA
xx dne 3. xxxxx 2004,
xxxxxx xx xxxxxxx požadavky xx xxxxxx xxxxxxx x Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxx xxxxxx magnetických xxxxxxxxxx xxxxxx pro xxxxxxxxxxxxxxx
Ministerstvo xxxxxxxx a xxxxxxx xxxxxxx xxxxx §27 xxxxxx č. 505/1990 Xx., x xxxxxxxxxx, xx xxxxx xxxxxx x. 119/2000 Xx. x zákona x. 137/2002 Sb., (dále xxx "zákon") x xxxxxxxxx §6 odst. 2 x §9 xxxx. 1 zákona:
§1
Tato xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx x Epsteinovým přístrojem xxx měření xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxxxxxxxx (xxxx xxx "xxxxxx sestavy"), xxxxxx xxx xxxxxxxxxxx jejich xxxx x xxxxxx xxx jejich xxxxxxxxx.
§2
Terminologie, xxxxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx, xxxxx x xxxxxx při schvalování xxxx měřicích sestav x xxxxxx při xxxxxx xxxxxxxxx jsou xxxxxxx x příloze.
§3
Xxxx xxxxxxxx nabývá xxxxxxxxx xxxx 1. xxxxxx 2004.
Xxxxxxx:
Xxx. Xxxxx x. x.

Xxxxxxx x xxxxxxxx x. 71/2004 Sb.
1 XXXXXXXXXXXX
1.1 Xxxxxx xxxxxxx xx používá xxx xxxxxx amplitudové charakteristiky x xxxxxxx ztrát xxxxxx pro xxxxxxxxxxxxxxx. Xxxxxx xx z xxxxxxxxx x xxxxxxxx xxxxxxxxxx podle xxxxxxx 1 xx 3 x xxxxxxxxxxxxxxx v xxxx 2.
1.2 Etalonový xxxxxx pro Epsteinův xxxxxxxx xxxxxxxxxxxx k xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxxxx požadavky xxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx.
1.3 Xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xx měřicí xxxxxxx xxxxx xxxx 1.1, xxxxx xx x držení xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx, je xxxxxxxxxx xxxxxxxxx a xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx vzorků xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx.
1.4 Měrné xxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx x měřeném xxxxxx xxxxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx.
1.5 Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx ve vzorku xx xxxxxxxxx intenzity xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxx.
2 XXXXXXXXX XX XXXXXX XXXXXXX
2.1 XXXXXXXXXXXX XXXXXXXXX
Xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxx x xxxxx, které xxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxx
x) Xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxxxx x bodu 2.2,
x) xxxxxxx frekvence měřící x xxxxxx 0,1 % nebo menší,
c) xxxxxxxx střední xxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % nebo xxxxx,
x) xxxxxxxx efektivní xxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % xxxx menší,
e) xxxxxxx xxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,5 % xxxx xxxxx xxx xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxx xxxxxxx, resistance xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxx 5000xxxx větší xxx jeho xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx x chybou 0,5 % xxxx menší xx spojení x xxxxxxx x vyhovujícím xxxxxxxxx xxxxxxx a xxxxxxxx xxxxxx s xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx (xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx s xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxx indukčnost s xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxxx vinutí x x xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx xxxxx x xxxxxxxxxxx přepínačem x xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx),
x) xxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx x nízkou xxxxxxxx xxxxxxxxx a xxxxxxx xxxxxxxxxx napětí x xxxxxxxxx, xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxxx xxxxx xxx větší než 0,2 % xxxxxxx xxxxxxx. Xxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx musí xxx zajištěn xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx napětí 1,111 ± 1%.
Součástí xxxxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx , xxxxx xxxx xxxxxxxxxxxx vlastnostmi x xxxxxxxxx odpovídat vzorkům, xxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx. Xxxx vzorky xxxx xxxxxxxx příslušné xxxxxxxxx xxxx 2.2.
2.2 XXXXXXXXX XXXXXXXXX
2.2.1 Xxxxxxxxxx
2.2.1.1 Xxxxxxxxx xxxxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxxxx se xxxxxx xx xxxx xxxxx, do xxxxxxx xx vkládají xxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxx. Xxxxxx xxxxx xxxx xxxxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx, xxxx xxxxxxxxxxx průřez x xxxxxxx xxxxxx 32 xx. Xxxxxxxxxxxx vnitřní xxxxx xx 10 xx. Xxxxx jsou xxxxxxxx xx desce x xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx tak, xx tvoří xxxxxxx. Xxxxx strany xxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxx xxxxxxxxx vzorku je (220 +1 -0) xx.
Xxxxx xxxxx xx xxx xxxxxx -. xxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x vnitřní xxxxxxxxxx xxxxxx. Xxxx xxxx xxxx být xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxx. Vinutí xxxx xxx navinuto xxxxxxxxxx xx xxxxx 190 xx, xxxxx xxxxx xx jednu xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxx. Xxxxxxxx xxxxxx všech xxxxx xx xxxxxxx xxxxxxx, stejně je xxxxxxx xxxxxxx sekundární xxxxxx všech cívek. Xxxxx závitů není xxxxxxxxx, xxx obvykle xx 700 xxx xxxxxxx xxx xxxxxxxxx 50 Hz.
K xxxxxxxxxxx xxxxxxx vlivu xxxxxxxxx xxxxxx musí xxxx xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxxxx:
X1/X12 ≤ 1,25 .10-6 Ω , X2/X22 ≤ 5 .10-6 Ω, (1)
X1/X12 ≤ 2,5 . 10-9 X, L2/N22 ≤ 2,5 . X0-9 X , (2)
xxx R1 x X2 xxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx resp. xxxxxxxxxxxx xxxxxx,
X1 a L2 xxxx induktance xxxxxxxxxx xxxx. xxxxxxxxxxxx xxxxxx,
X1 x N2 xxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx xxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxx xx magnetický xxx xxxxxxxx. Xx xxx xxxxxx xx xxxxxxxxx prostoru xxxxxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx, xxxx osa xx kolmá x xxxxxx xxxxxxx osami xxxxx Epsteinova přístroje. Xxxxxxxx vinutí této xxxxxxxxxxx xxxxx xx xxxxxxxx x xxxxx x xxxxxxxxx vinutím Xxxxxxxxxx přístroje x xxxxxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxx x xxxxx xx xxxxxxxxxxx vinutím Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxx, xxx xxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx byla xxxxxx xxxxxxxx. Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx vzájemné indukčnosti xx xxxxxx, xx xxx xxxxxxxx střídavého xxxxxx primárními xxxxxxxx xxx xxxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx (xxxxxx není xxxxxx) xxxxxx měřené xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxx než 0,1 % napětí xx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxxxx Epsteinova xxxxxxxxx.
2.2.1.2 Xxxxxxxxx vzorky
Součástí xxxxxx xxxxxxx jsou etalonové xxxxxx xxx Epsteinův xxxxxxxx (xxxx xxx "xxxxxxxxx xxxxxx"). Xxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxxx rozsah magnetických xxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx xxxx xxxxxx sestavou běžně xxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxx z xxxxxxxxxxxxxxxx xxxxx. Pásky xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx být xxxxxx, jsou stříhány xxx, viditelných xxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxx xx xx specifikováno, jsou xxxxxxx xxxxxxxxxx. Pásky xxxx xxx xxxxx, xxx okují x xxxxxx xxxxxxxx. Pásky xxxxxx mají xxxxxxxxxxx xxxxxxx:
xxxxx 30 xx ± 0,2 xx, xxxxx xx xxxxx xxxx xxxxx 280 xx a menší xxxx rovna 320 xx.
Xxxxx xxxxx xxxx xxx xxxxxx x xxxxxxxxx ± 0,5 xx. Když xxxx xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxx xxxxx xx xxxxxx xxxxxxxxx, xxxxxx xxxxxxxxxx xxxx xxxx xxxxxx jsou xxxxx xxxx xxxxxxxxxx xxxx. Xxxxx'xxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx musí xxx směr delší xxx xxxxx odlišný xx směru xxxxxxxxx xxxxxxx o ± 1°. U xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx z xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx pásků xxxx xxxxx xxx xxxxxx xx xxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx ± 5° x druhá polovina xxxxx má xxxx xxxxx xxx xxxxx xx xxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx ± 5°. Xx xxxxxx xxxxx xxxx xxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxx. Pásky s xxxxx xxxx ve xxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx cívek Epsteinova xxxxxxxxx a xxxxx x delší osou xxxxxx xx směr xxxxxxxxx se vkládají xx zbývajících xxxxx.
Xxxxx xxxxx xxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxx. Aktivní xxxxxxxx xxxxxxxxxxx vzorku xxxx být xxxxxxx 240 g xxx xxxxxx xxxxxx 280 xx.
Xxxxxxxxx xxxxx magnetického xxxxxx vzorku xx xx xxxxxxxxx xxxxxxx 0,94 x. Xxxxxxx xxxxxxxx vzorku ma xx xxxx xxxxxxx
xx = x . xx / 4x, (3)
xxx
x xx délka xxxxx xxxxxx x x,
xx xx xxxxxxxxx xxxxx magnetického obvodu 0,94 x,
x xx xxxxxxx hmotnost xxxxxx x xx,
xx xx xxxxxxx xxxxxxxx vzorku x xx.
2.2.1.3 Xxxxxx xxxxxxx
2.2.1.3.1 Xxxxxx xxxxxxx xxx měření měrných xxxxx
Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx měrných xxxxx xx xxxxxxxx podle xxxxxxxx na xxxxxxx 1. Xxxxxxxxxxx xxxxx xx xxxxxx xxxxxxxx, xx xx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx hodnoty xxxxxxxxxxx xxxxxx |X2x| xx xxxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx. Přičemž xx xxxxxxxxxxx sleduje xxxxxxx xxxxxxxxxxxxx proudu, xxx xxxxxxxx obvod xxxxxxxxx xxxxx přetížen. Xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxxx z xxxxxxxxxx amplitudy xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx podle
IU2mI = 4 ƒ X2 X Xx Xx / (Xx + Xx), (4)
xxx
|X2x| xx xxxxxxx xxxxxxx usměrněného xxxxxx indukovaného v xxxxxxxxxxx xxxxxx xx X,
ƒ je frekvence x Hz,
N2 je xxxxxxx počet xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx,
X xx xxxxxx vzorku v x2,
Xx je xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx x X,
Xx xx celková xxxxxxxxxx přístrojů v xxxxxxxxxxx xxxxxx x Ω,
Xx xx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx a xxxxxxxxxxx xxxxxxxx indukčnosti,
Průřez xxxxxx xx vypočte x xxxxxxx
X = x / (4 x ρx) , (5)
xxx
X xx xxxxxx xxxxxx ve xxxxxxxxxxx x,
x je xxxxxxx xxxxxxxx vzorku x xx,
x xx délka xxxxx xxxxxx v x,
ρx xx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx vzorku x xx/x3.
Xxxxxxx 1
Xxxxxxxxx x primárním xxxxxx xx xxxxxxxx x xxxxxx se xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx na xxxxxxxxxxx xxxxxxx. Xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx xxxx xxx 1,111±1%.
X xxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx Xx xxxxx
Xx = Xx X1 / X2 - (1,111|U2m|)2 / Xx, (6)
xxx
Xx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xx X,
Xx xx xxxxx změřený xxxxxxxxxx ve X,
X1 xx xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx,
X2 xx xxxxxxx xxxxx xxxxxx sekundárního vinutí
Ri xx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx přístrojů x xxxxxxxxxxx xxxxxx x Ω
|X2x| je xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx v xxxxxxxxxxx xxxxxx ve V.
Měrné xxxxxx Xx xx xxxxxxxx podle xxxxxx
Xx = Xx / xx = (Xx / ma) . (4x / xx), (7)
xxx
Xx jsou celkové xxxxx xxxxxx xxxxxx xx W/kg,
l xx xxxxx xxxxx xxxxxx x x,
xx xx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx v x (xx = 0,94 m),
m xx xxxxxxx xxxxxxxx vzorku x kg,
ma xx xxxxxxx xxxxxxxx vzorku x kg,
Pc xxxx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxx xx W.
2.2.1.3.2 Xxxxxx sestava xxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx
Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxxxx charakteristiky xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxx 2 xxxx xx xxxxxxx 3. Xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx charakteristiky xx xxxx vzorek xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx takového xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxx magnetické xxxxxxxxxx xx xxxxxx, x xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx snižováním xx xxxxxx xxxxxxx.
Xxxxxxxxx magnetické xxxxxxxxxx Xx xx xxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx usměrněného napětí xxxxxxxxxxxx x sekundárním xxxxxx xxxxx xxxxxx (4).
Xxxxxxxxx xxxxxxxxx magnetického xxxx ve xxxxxx Xx xx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx primárního xxxxxx I1a, xx xx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx X1x xx xxxxxx X v xxxxxxxx xxxxx xxxxxxx 1. Xxxxx X1x = U1a / X. Xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxxx z rovnice:
Ha = X1x X1 / xx, (8)
kde
Ha xx amplituda xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxx,
X1x xx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx v xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx
xx xxxxxxxx efektivní xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx vzorku
N1 xx xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx
Xxxxxxx 2
Xxxxxxxxxxx xxxx xxx amplituda xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx napětí xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx indukčnosti XX, xxxxx xxxxxxxx xxxxxx je zapojeno x sérii x xxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxx 3. Xxx xxxxxxx této xxxxxx xx nezbytné xxxxxxxxxxx xxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx XXx xxxxxxxxxxxx, xxxxxx průběh xxxx xxx pouze dva xxxxxxxx nulovou xxxxxxxx xxxxx xxxxx periody. Xxxx xxxxxxxx střední xxxxxxx nutný x xxxxxx UDm xxx xxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x přepínač, xxx je znázorněno xx xxxxxxx 3.
Amplituda xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxxx z xxxxxxx
Xx = UDm [X1 / ( 4 x XX xx )] . (Xx + Xx) / Rv , (9)
xxx
XX xx vzájemná xxxxxxxxxx x xxxxxx xxxxx obr. 3 x X
Xx xx xxxxxxx resistance xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx x Ω,
Xx xx resistance xxxxxxxxxxxx xxxxxx.xxxxxxxx xxxxxxxxxxx XX v Ω,
XXx xx střední hodnota xxxxxxxxxxx napětí xxxxxxxxxxxx x sekundárním xxxxxx XX.
Xxxxxxx 3
2.2.2 Xxxxxx x xxxxxx
2.2.2.1 Měřicí xxxxxxx
Xxxxxxxxx nápisy a xxxxxx xx měřicí xxxxxxx xxxx nahrazeny xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx, xxxxx xxxx xxx xxxxxxxxxxx x která musí xxxxxxxxx
x) xxxxxx 'všech xxxxxxx x xxxxxxxx, xxxxx xxxxxxxx k xxxxxx sestavě, s xxxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxx a xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx x měřicí sestavy xxxxx xxxxx xxxxxxx,
x) xxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxxxx druh měření, xxxxxxxxx xxxxxx a xxxxxx x obsluze xxxxxxxx měřicí sestavy,
c) xxxxxxx popisy xxxxxxx xxxxxx a xxxxxxxx (xxxxxxxxx napájení zesilovačem xxxxxxxxxxx xxxxxxxx časový xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx, xxxxxx xxxxxx převodníkem xx xxxxxxx vzorkovacího xxxxxxxx, využití řídicího xxxxxxxx),
x) xxxxx x xxxxx xxxx xxxxxxx, xxx xxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxx x xxxxxxx,
x) xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx,
x) kalibrační xxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxx, xxxxx xxxx xxxxxxxx měřicí xxxxxxx, xxxxx xxxxxxxxx nebo xxxxxxx xxxx xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxxx xxxx měřicí xxxxxxx xxx xxxxxxxxx xxxxxxx,
x) kniha xxxxxxx xxxxx xxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxx x xxxxxx sestavě.
2.2.2.2 Xxxxxxxxx xxxxxxxx
Xxxxx Epsteinova xxxxxxxxx musí být xxxxxxxx. Xxxxxxxxxx xx xxxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx A, X, C, D. Xx Epsteinově přístroji x x xxxxxxxxxxx xxxxxx sestavy musí xxx uvedeny xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx vinutí.
2.2.2.3 Xxxxxxxxx xxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxx musí xxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxx, x xx xxxxxxx, xxxxxxx x nesmazatelným xxxxxxxx xx xxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx.
Xxxxxxx xxxxx etalonového xxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx xxx, aby xxxxxx xxxxxxx v Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx možné xxxxxxx způsobem.
Ke každému xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx vystaven evidenční xxxx, ve kterém xxxx xxx xxxxxxx:
x) xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx,
x) xxxx x xxx xxxxxxxxx,
x) xxxxxx xxxxxx,
x) hustota vzorku,
e) xxxxxxxx xxxxxx,
x) počet xxxxx vzorku,
g) tloušťka, xxxxx a xxxxx xxxxx xxxxxx.
Xxxxx xxxx xxxxxxx xxxxx, xxxxx xxxx xxx xxxxxxx x xxxxxxxxxx xxxxx, xxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxx vzorku, etalonový xxxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxx xxxx.
3 SCHVALOVÁNÍ XXXX
3.1 Postup xxx xxxxxxxxxxx typu
3.1.1 Xxxxxxxxx xxxxxxxxx
Xxxxxxxxxx orgán xx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx1) xxxxxxxx, xxx xxxxxxxxxxx a následně xxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx této vyhlášky, xxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxx xxxx xxxxx xx negativní xxxxxxxx xxxxxxx.
3.1.2 Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx
3.1.2.1 Xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx orgánu nejméně 2 xxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx. Xxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxx x svými xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx vlastností xxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx sestavou, v xxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxx. Xxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxx 2.2.1.2 x 2.2.2.3. X xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx musí xxx xxxxxxxxx kopie xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxxxx předchozí ověřovací xxxxx xxxxxx. X xxxxxxxxx etalonovým vzorkům xxxx xxx přiloženy xxxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx v xxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx xx starší xxx 3 xxxxxx xx xxxx doručení.
3.1.2.2 X xxxxxxxxxx xxxxxx xx xxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxx sestavě xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxx xxxxxx x amplitudová xxxxxxxxxxxxxxx xxxxx xxxx 2.2.1.3. X změřenému xxxxxx xx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxx, kde xx xxxxxx aritmetické xxxxxxx xxxxxxx z opakovaných xxxxxx.
3.1.2.3 Xxxxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxx měření xxxxxxx xxxxx etalonových xxxxxx (xxxxxxxxxxxxxx ke xxxxxxxx xxxxxx sestavě) xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx x xxxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx x %
δxx = (x1x - x2x) . 100 / p2i , (10)
xxx
x1x je xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxx x-xx xxxxxxx měrných ztrát xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx (xxxxxxxx xxxxxx zaslané xx xxxxxxxx xxxxx x etalonovými vzorky),
p2i xx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxx x-xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx sestavou (xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxxxxxx kalibračním xxxxx).
Xxxxxxx xxxxxxxxxxx rozdílů xxxxxxx xxxxx δxx zjištěné x rámci xxxx xxxxxxx musí být xxxxx xxx 3 % xxx xxxxxx x orientovaného materiálu xxx xxxxxxx magnetické xxxxxxxxxx do 1,7 X x pro xxxxxx z neorientovaného xxxxxxxxx xxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx 1,5 T.
3.1.2.4 Xxxxxxxx xx xxxxxxxxx rozdíly xxxxxx amplitudové xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx vzorků (xxxxxxxxxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx) zkoušenou xxxxxx xxxxxxxx a xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx x % jako xxxxxxxxx xxxxxxxxx vzdálenosti x-xxxx xxxx (Bi ,Xx) xxxxxxxxxxxxxxx zjištěné xxxxxxx xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxxxxx určené xxxxxxx xxxxx etalonového xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxx (11), (12) xxxx (13):
δxx = δBi . 100 / √ {1 + [(Xx / Xx) . (xX / xX)x ]2} = ΔXx . 100 / √ {Bi2 + [Xx . (xX / xX)x]2} (11)
δxx = δXx . 100 / √ {1 + [(Xx / Hi) . (xX / xX)x-1]2} = ΔXx . 100 / √ {Xx2 + [Xx . (xX / dH)i-1]2} (12)
δai = δXx . |δXx| . 100 / √ (δXx2 + δXx2 ) = ΔXx . |ΔXx| . 100 / √ (ΔBi2 . Xx2 + ΔXx2 . Xx2) (13)
xxx xxxxxxxxx xx xxxxx xxx xxxxxx x kde
δBi = (Xx - Bi´) / |Xx| = ΔXx / |Xx|, (14)
ΔXx = Xx - Xx´, (15)
δHi = (Xx - Xx´) / |Hi| = ΔXx / |Xx|, (16)
ΔXx = Xx - Hi´, (17)
(xX / xX)x xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx vzorku etalonovou xxxxxx sestavou x xxxx (Xx, Xx´),
Xx x Xx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx resp. magnetické xxxxxxx x-xxxx xxxx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx,
Xx´ xx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx odečtená xx xxxxxxxxxxxxxxx měřené xxxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx xxx xxxxxxx Xx,
Xx´ xx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx sestavou xxx xxxxxxx Xx.
Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx δxx xxxx xxx xxxxx xxx 4 % xxx xxxxxxx body měření xxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxx xxxx xxxxxxx.
3.1.3 Xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx sestavy
Vnější xxxxxxxxx x xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx x místě užívání xxxxxxxx xxxxxx sestavy. Xxx vnější xxxxxxxxx xx xxxxxxxxxx
x) xxxxxx xxxxxxx nesmí xxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx,
x) měřicí xxxxxxx musí sestávat x měřidel, etalonů x součástí xxxxxxxxx x dokumentaci,
c) xxxxxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxx xxxx xxx v xxxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxx pro příslušný xxxx xxxxxx,
x) úplnost xxxxx xxxxxxxxx požadovaných x xxxx 2.2.2.
3.1.4 Xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx
Xxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xx měří xxxxxxxxx vzorky (příslušející x xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx) xxxxxxxxxxxx metrologického xxxxxx x jeho xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xx xxxxx x bodem 3.1.2.
3.1.5 Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx
Xxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx obsahuje xxxxx x xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxx 3.1.2 , 3.1.3 x 3.1.4, xxxxx xxxx mít xxxxxx xxxxxxxx. Xxxx xxxxxxxx xxxxxx, nákresy x schémata xxxxx xxx xxxxxxxxxxxx typu x xxxxxxxxx jeho xxxxxx.
3.2 Xxxxxxxxxx schválení xxxx
Xxxxxxxxxxx certifikátu xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx zvláštní xxxxxx xxxxxxx2).
4 OVĚŘOVÁNÍ
Prvotní x následné xxxxxxxxx xxxxxxx xx zkoušek xxxxx xxxx 3.1.2, 3.1.3. x 3.1.4. Xxxxx xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx zkoušek xxxxxx x xxxxxx xxxxxxx xxxxxxx požadavky xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx, xxxxxxx se ověřovací xxxx x xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx se xxxxxx úřední xxxxxxx3).

Xxxxxxxxx
Xxxxxx xxxxxxx č. 71/2004 Xx. xxxxx xxxxxxxxx dnem 1.3.2004.
Xx xxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx měněn xx xxxxxxxxx.
Xxxxxx xxxxxxx x. 71/2004 Sb. xxx zrušen xxxxxxx xxxxxxxxx č. 259/2007 Sb. x xxxxxxxxx xx 1.1.2008.
Xxxxx xxxxxxxxxxxx právních norem xxxxxx xxxxxxxx předpisů x xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxxxxxx, pokud se xxxx netýká xxxxxxxxx xxxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxx předpisu.
1) §1 xxxx. 2 vyhlášky x. 262/2000 Xx., xxxxxx se xxxxxxxxx xxxxxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxxxx, xx xxxxx vyhlášky x. 344/2002 Xx.
2) §3 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx.
3) §6 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx.